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更多产品 >>手持式X荧光光谱仪S1 TITAN重量轻(1.23kg,测量范围Mg-U)、是基于X射线管技术的手持式XRF分析仪。
TRACER 5g采用了一个带有1μm石墨烯窗口的新探测器,石墨烯窗口取代了传统的8μm铍窗口
微区X射线荧光光谱分析技术是对不均匀样品、不规则样品、甚至小件样品和包裹物进行高灵敏度的、非破坏性的元素分析方法。
快速多元素痕量分析可对固体、粉末、液体、悬浮物、过滤物、大气飘尘、薄膜样品等进行定性、定量分析,元素范围13Al-92U。
M4 TORNADOPLUS是能够检测出C(6)-Am(95)间元素的微区X射线荧光成像光谱仪。
便携式XRF分析仪适用于在实验室外检测固体、粉末和液体。
手持式土壤重金属分析仪实现了快速、准确分析土壤中的有害金属元素Pb(铅),As(砷),Cd(镉),Hg(汞),Cu(铜),Ni(镍),Zn(锌),Cr(铬)等有害元素,能够实时对厂区、矿区、重工业区周.....
新型Dektak XTL探针式轮廓仪系统可容纳多大350mm*350mm的样品,将Dektak有意的可重复性和再现性应用于大尺寸晶片及面板制造业。
德国布鲁克 DektakXT 台阶仪(探针式表面轮廓仪)可以提供更高的重复性和分辨率,测量重复性可以达到5?。
ContourGT-X是实验室开发到批量生产均可适用的仪器。
同时碳纤维结构的耐受能力强,适用于宽广的温度范围。
薄膜厚度指的是基片表面和薄膜表面的距离,而实际上,薄膜的表面是不平整,不连续的,且薄膜内部存在着针孔、微裂纹、纤维丝、杂质、晶格缺陷和表面吸附分子等。
反射光谱干涉法是一种非接触式、快速的光学薄膜厚度测量技术。
扫描速度快、分辨率高的的原子力显微镜Dimension FastScan
FSM128系列设备,装备有光学扫描系统。
FSM 500TC 200mm 高温应力测试系统可以帮助研发和工艺工程师评估薄膜的热力学性能和稳定性特性
硅片表面形貌测量VIT系列
FSM413回波探头传感器使用红外(IR)干涉测量技术。
Thermo Plus TG-DTA系列的设计在于紧致性和功能性。
PV200为光伏系统提供了一个测试及诊断解决方案
CUBE(立方)是一种以脉冲复位模式运行的单片电荷灵敏式前置放大器,借助外部电阻器,也可以以连续复位模式运行。
涂层测厚仪应用范围广泛:它们是检查进货部门所交付材料的理想工具。
先进的测量仪器: 彩屏, PC 连接,易操作, 以及适合PHYNIX探头。
用于钢/铁以及有色金属的清漆、油漆和电镀涂层的测量
行业应用
更多应用 >>纳米材料
材料科学是研究材料的组织结构、性质、生产流程和使用效能以及它们之间的相互关系,集物理学、化学、冶金学等于一体的科学。材料科学是一门与工程技术密不可分的.....金属材料
金属材料是指具有光泽、延展性、容易导电、传热等性质的材料。一般分为黑色金属和有色金属两种。黑色金属包括铁、铬、锰等。环境与食品
日益严重的环境污染和频繁发生的食品问题因其对人类生命与健康的威胁而成为关注的两大热点问题。矿石分析仪的技术优势和主要作用说明
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